Analytiklabor und Qualitätssicherung

Spurenmetallanalyse von Silicium, Glimmentladungs-Massenspektroskopie, GDMS, GD-MS, Dotierstoffe, Leitungstypbestimmung, Detektion von Rissen im Silicium, Ladungsträgerlebensdauer Messung, MDP, microwave detected photoconductivity

Wir bieten Ihnen umfangreiche Analysen für photovoltaische und nichtphotovaltische Anwendungen. So unterstützen wir Sie beispielsweise bei Wareneingangs- und -ausgangsprüfungen.

  • Spurenmetallanalyse von Silicium mittels Glimmentladungs-Massenspektroskopie (GDMS)
  • Nachweise von Dotierstoffen im Silicium
  • automatisierte LeitungstypbestimmungInfrarot-Messung zur Detektion von Rissen, Einschlüssen und Verunreinigungen
  • Ladungsträgerlebensdauer-Messung mittels MDP (microwave detected photoconductivity)
  • Widerstandsprofile